全自动晶圆清洗与检测系统
面向半导体制造链条的精密尺寸检测环节,以非接触光学影像测量为核心,覆盖晶圆载具、封装基板、引线框架等工件的二维尺寸与轮廓检测,可按精度与行程需求组合闪测仪与影像测量仪,并支持选配传感器扩展高度方向测量。
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面向半导体制造链条的精密尺寸检测环节,以非接触光学影像测量为核心,覆盖晶圆载具、封装基板、引线框架等工件的二维尺寸与轮廓检测,可按精度与行程需求组合闪测仪与影像测量仪,并支持选配传感器扩展高度方向测量。

针对极片薄、软、易划伤的工件特性,以远心透射非接触成像获取轮廓尺寸,闪测仪一次放置即可批量输出多个尺寸,大面积极片可选大行程机型,厚度与高度方向数据可通过选配传感器获取。

按检测节拍分级配置:闪测仪负责首件与巡检的快速全尺寸筛查,影像测量仪负责高精度二维尺寸复核,在线闪测仪可集成至产线工位;三种光学照明覆盖轮廓、表面与反光特征,测量数据可输出报告用于质量追溯。

以非接触影像测量完成型腔与镶件的二维轮廓测量,配合远心透射照明、分区表面光与同轴光还原轮廓及表面特征;微细特征可选高倍率光学机型,深度与高度方向数据可通过选配点光谱、线激光或接触式探针获取。

以龙门式影像测量仪完成中框与结构件的全尺寸二维检测,一次装夹读取外形、孔位、R角与台阶等多个尺寸;大视野闪测仪可用于快速筛查,微细孔与深腔可选配传感器扩展高度方向测量,测量结果可输出报告。

针对磁钢、磁片、磁环等脆性易崩边材料,采用非接触光学影像测量,避免接触力造成的崩角与划伤;闪测仪一次放置可批量输出多个尺寸,微细特征可选高倍率光学机型,车间现场可用一体式智能投影仪快速筛检。